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| >>恒溫恒濕試驗(yàn)箱GB/T5170.5-2008標(biāo)準(zhǔn)解析 |
| 恒溫恒濕試驗(yàn)箱GB/T5170.5-2008標(biāo)準(zhǔn)解析 |
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| 時(shí)間：2013/1/7 |
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恒溫恒濕試驗(yàn)箱GB/T5170.5-2008標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。
GB/T5170.5-2008標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法》和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J：長霉》所用試驗(yàn)設(shè)備的首次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本標(biāo)準(zhǔn)出適用類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。
恒溫恒濕試驗(yàn)箱GB/T5170.5-2008標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范性引用文件：
下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。
GB/T2423.3 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T2423.4 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法
GB/T2423.16 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J：長霉
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